HP ProLiant SL230s Gen 8-Server - Handbuch (Seite 35)

4 Fehlerbehebung
Arbeitsspeicher-Fehlersuche
Die Speichertestkomponente kann die folgenden Tests ausführen:
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Address test (Adresstest): Dieser Test prüft die Integrität der Adressbusse, die die Prozessoren
mit den Speichermodulen verbinden. Bei dieser Prüfung werden Daten an alle möglichen
Adressen geschrieben, bei denen nur 1 Bit gesetzt (1) oder nicht gesetzt (0) ist, bei denen
alternierende Bits gesetzt sind, bei denen alle Bits gesetzt sind und bei denen keine Bits gesetzt
sind. Der Zweck dieses Tests besteht in der Prüfung der Adressleitungen auf Masseschluss,
Kurzschluss zu einem Hochspannungssignal, Kurzschluss zu anderen Adressleitungen und
Erdfreiheit (nicht verbunden). Dieser Test allein ist noch kein Beleg für einen Hardwarefehler.
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Walk test (Übertragungstest): Dieser Test prüft die Integrität der Datenbusse, die die Prozessoren
mit den Speichermodulen verbinden. Bei dieser Prüfung werden Daten an alle möglichen
Adressen geschrieben, bei denen nur 1 Bit gesetzt (1) oder nicht gesetzt (0) ist, bei denen
alternierende Bits gesetzt sind, bei denen alle Bits gesetzt sind und bei denen keine Bits gesetzt
sind. Der Zweck dieses Tests besteht in der Prüfung der Datenleitungen auf Masseschluss, auf
Kurzschluss zu einem Hochspannungssignal, Kurzschluss zu anderen Adressleitungen und
Erdfreiheit (nicht verbunden). Dieser Test allein ist noch kein Beleg für einen Hardwarefehler.
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Noise test (Rauschtest): Dieser Test prüft die Speicherintegrität, in dem der Kehrwert der
aktuellen Testadresse an die aktuelle Testadresse geschrieben wird. Die aktuelle Testadresse
alterniert zwischen Anfang und Ende des aktuellen Testblocks. Dabei wird die Adresse erhöht
oder verringert, bis auf den gesamten Block zugegriffen wurde. Der Zweck dieses Tests besteht
in der Prüfung auf Adressbus- und Datenbusübergangsprobleme, wenn diese Leitungen möglichst
schnell zwischen aktiv und inaktiv umgeschaltet werden. Wenn dieser Test nicht bestanden
wird, liegt ein DIMM-Fehler vor.
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March test (Marschiertest): Dieser Test ähnelt dem Übertragungstest und kann folgende Probleme
aufdecken: Adressfehler, Haftfehler, Übergangsfehler, Koppelfehler und Koppelverbundfehler.
Fehler dieser Arten treten auf, wenn Speicherzellen in einem Bitzellen-Array den Betrieb
benachbarter Speicherzellen beeinträchtigen. In vielen Fällen werden diese Fehler von statischen
Tests nicht erkannt. Wenn dieser Test nicht bestanden wird, liegt ein DIMM-Fehler vor.
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Random address test (Zufallsadressentest): Dieser Test dient der Bestätigung der
Speicherintegrität durch den Zugriff auf einen gegebenen Testbereich mit einem zufälligen
Muster. Die zum Speichern der Muster verwendeten Adressen werden zufällig ausgewählt
und normalisiert, damit sie in den aktuellen Testblock fallen. Der Zweck dieses Tests besteht
in der Ermittlung unregelmäßig auftretender Speicherprobleme, die beispielsweise durch
Temperatur, wechselnde Taktraten, Spannungsschwankungen, Signaltiming, Produktionsfehler,
unregelmäßige Aktualisierungsraten und Komponentenalterung verursacht sein können. Dieser
Test ist außerdem bei der Ermittlung von Speicherfehlern nützlich, die von anderen statischen
Tests möglicherweise nicht erkannt werden. Wenn dieser Test nicht bestanden wird, liegt ein
DIMM-Fehler vor.
Aufgrund des installierten Betriebssystems und der Anwendungen kann nicht der gesamte Speicher
in einem System getestet werden. Als Best Practice wird die Verwendung der Standardeinstellung
für den jeweiligen Test empfohlen. Die Standardeinstellungen stellen sicher, dass ein möglichst
großer Teil des verfügbaren Speichers getestet wird.
Um den Speicher gründlich zu testen, führen Sie so viele Schleifen aus, wie in der verfügbaren
Zeit möglich sind. Wenn die Zeit ein kritischer Faktor ist und nicht alle Speichertests ausgeführt
werden können, empfiehlt HP die Ausführung des Zufallsadressentests und des Rauschtests. Diese
beiden Tests werden die meisten Fehler erkennen.
Arbeitsspeicher-Fehlersuche 35