Canon EOS 1D Mark II N Benutzerhandbuch
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Technische Daten
AF-Messfelder:
45 AF-Messfelder (Flächen-Autofokus)
Messbereich:
EV 0–18 (bei 20 °C und ISO 100)
AF-Betriebsarten:
One-Shot AF (ONE SHOT)
AI Servo AF (AI SERVO)
Manuelle Scharfeinstellung (MF)
AF-Messfeldwahl:
Automatische Messfeldwahl, manuelle Messfeldwahl,
Grundstellung (Umschaltung auf das gespeicherte AF-Messfeld)
Ausgewählte AF-Messfeldanzeige: Im Sucher und auf der oberen LCD-Anzeige
AF-Hilfslicht:
Externes Speedlite gibt Hilfslicht ab
• Belichtungsregelung
Messmethoden:
TTL-Offenblendenmessung mit 21 Messsektoren
(1) Mehrfeldmessung (mit jedem AF-Messfeld verknüpfbar)
(2) Selektivmessung (über ca. 13,5 % des Sucherfeld s
im zentralen Bereich)
(3) Spotmessung
• Zentrale Spotmessung (über ca. 3,8 % des Sucherfelds
im zentralen Bereich)
• AF-verknüpfte Spotmessung (über ca. 3,8 % des Sucherfelds)
• Multi-Spotmessung (max. 8 Spotmessungen)
(4) Mittenbetonte Integralmessung
Messbereich:
EV 0–20 (bei 20 °C, mit Objektiv 50 mm 1:1,4 und ISO 100)
Belichtungsregelung:
Programmautomatik (mit Programmverschiebung),
Blendenautomatik, Zeitautomatik, E-TTL-Blitzautomatik,
manuelle Belichtung, gemessene manuelle Blitzlichtaufnahmen
ISO-Empfindlichkeit:
Entspricht ISO 100–1600 (in Drittelstufen),
kann auf ISO 50 und 3200 erweitert werden
Belichtungskorrektur:
Manuell: ±3 Stufen in 1/3- oder 1/2-Schritten
(kann mit AEB kombiniert werden)
AEB: ±3 Stufen in 1/3- oder 1/2-Schritten. (Methoden zur Streuung:
1. Verschlusszeit und Blendenwert 2. ISO-Empfindlichkeit)
AE-Speicherung:
Automatisch: Im One-Shot AF-Modus mit
Mehrfeldmessung bei Schärfenspeicherung
Manuell: Mit Speichertaste in allen Messmodi
• Verschluss
Typ:
Elektronisch gesteuerter Schlitzverschluss
Verschlusszeiten:
1/8000 bis 30 s (1/3- und 1/2-Schritte),
Langzeitbelichtung, X-Synchronzeit 1/250 s
Auslöser:
Elektromagnetischer Sanftauslöser