KROHNE OPTISWITCH 3x00C Transistor SIL DE - Handbuch (Seite 4)

DC
D
D iagnostic Coverage of dangerous failures; DC
D
= λ
dd
/(λ
dd
+ λ
du
)
FIT F ailure In Time (1 FIT = 1 failure/10 9 h)
MTBF M ean Time Between Failure
MTTF M ean Time To Failure
MTTR M ean Time To Repair
l
IEC 61508 ( auch als DIN EN verfügbar)
-
F unctional safety of electrical/electronic/programmable
electronic safety-related systems
A usfallgrenzwerte für eine Sicherheitsfunktion, abhängig von
der SIL-Klasse (IEC 61508-1, 7.6.2)
S icherheits-Integri-
täts-Level
B etriebsart mit niedri-
ger Anforderungsrate
B etriebsart mit ho-
her Anforderungsra-
te
SIL PFD
avg
PFH
4 ≥ 10 -5 … < 10 -4
≥ 10 -9 … < 10 -8
3 ≥ 10 -4
… < 10
-3
≥ 10 -8
… < 10
-7
2 ≥ 10 -3 … < 10 -2 ≥ 10 -7 … < 10 -6
1 ≥ 10 -2 … < 10 -1 ≥ 10 -6 … < 10 -5
S icherheitsintegrität der Hardware für sicherheitsbezogene
T eilsysteme vom Typ B (IEC 61508-2, 7.4.3)
A nteil ungefährli-
cher Ausfälle
F ehlertole-
ranz der
H
ardware
SFF HFT = 0 HFT = 1 HFT = 2
< 60 % nicht erlaubt SIL 1 SIL 2
60 % … < 90 % SIL 1 SIL 2 SIL 3
90 % … < 99 % SIL2 SIL 3 (SIL4)
≥ 99 % SIL 3 (SIL4) (SIL4)
1 .2 P rojektierung
D ie Sicherheitsfunktion dieses Messsystems ist das Erkennen
und die Meldung des Zustandes des Schwingelements.
R elevante Normen
S icherheitsanforderun-
gen
S icherheitsfunktion
4 OPTISWITCH S erie 3000 • - Transistor (NPN/PNP)
F unktionale Sicherheit
32744
-DE
-080408