Banner PresencePLUS P4 Series - Handbuch (Seite 70)

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P/N 120676 05/05
Funktions-Übersicht PresencePLUS ® P4 GEO/GEO 1.3
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Funktions-Übersicht
Positionierungs-Funktionen, Übersicht
Siehe Positionierungs-Funktion Setup auf Seite 64 für Informationen zur Einstellung dieser Funktion.
Die Positionierungs-Funktion lokalisiert die absolute oder relative Position eines Objekts in einem Sichtfeld. Diese spezielle
Kanten-Funktion erfasst den ersten Übergang zwischen hellen und dunklen Pixeln. Diese Funktion wird anfänglich an einem
Merkmal eingestellt, dass sich in Bezug zu anderen geprüften Merkmalen in einer wiederholbaren Position befindet.
Beispiele:
• Lokalisierung der Position eines Etiketts an einer Flasche
• Lokalisierung der Position einer Batterieplatte
GEO-Suchfunktion, Übersicht
Siehe GEO-Suchfunktion Setup auf Seite 74 für Informationen zur Einstellung dieser Funktion.
Die GEO-Suchfunktion erkennt Vorhandensein und Position eines Objektmusters innerhalb eines spezifizierten Suchbereichs.
Eine Vorlage des Musters wird im Speicher abgelegt, und die Position der besten Übereinstimmung, die die Akzeptanzkriterien
erfüllt, wird als Referenz für andere Funktionen vorgegeben. Die GEO-Suchfunktion wird anfänglich an einem Merkmal
eingestellt, dass sich in Bezug zu anderen geprüften Merkmalen in einer wiederholbaren Position befindet.
Beispiele:
• Angleichen von Buchstaben und Zahlen
• Positionierung eines gedruckten Bezugspunkts
• Positionierung eines Bezugspunkts auf einer Leiterplatte
• Stichproben-Prüfung für ein Objekt
HINWEIS: Es ist wichtig, dass sich nur eine Objektstruktur in der Suchregion befindet. Nur die Messbereiche, die einer
Positionierungs-Funktion folgen (Positionierung oder GEO-Suche), bewegen sich relativ zu den Positionierungs-
Funktionen.
GEO-Zählfunktion, Übersicht
Siehe GEO-Zählfunktion Setup auf Seite 81 für Informationen zur Einstellung dieser Funktion.
Die GEO-Zählfunktion erkennt Vorhandensein und Position der Objektmuster innerhalb eines spezifizierten Suchbereichs. Eine
Vorlage des Musters wird im Speicher abgelegt, und die Position jedes Musters, das die Akzeptanzkriterien erfüllt, wird als
Referenz für andere Funktionen vorgegeben. Die gefundenen Muster werden in der Anordnung ihrer Position zum Sichtfeld-
Ursprung platziert. Die Anordnung geht von links nach rechts und dann von oben nach unten. Es folgt ein Beispiel der
Anordnung:
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Beispiele:
• Prüfung von Gewebestrukturen
• Prüfung von Datums-/Losnummern
• Prüfung von elektronischen Baugruppen
o
X
X
X
X
X X
Ursprung
Muster Nr. 1
Muster Nr. 4
Muster Nr. 6
Muster Nr. 2
Muster Nr. 3
Muster Nr. 5
Sichtfeld