7 sicherheitstechnische kennzahlen, 7 s icherheitstechnische kennzahlen – KROHNE OPTISWITCH 5xx0C Transistor SIL DE Benutzerhandbuch
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Die Prüfung ist so durchzuführen, dass die einwandfreie Sicherheits-
funktion im Zusammenwirken aller Komponenten nachgewiesen wird.
Dies ist bei einem Anfahren der Ansprechhöhe im Rahmen einer
Befüllung gewährleistet. Wenn eine Befüllung bis zur Ansprechhöhe
nicht praktikabel ist, so ist das Messsystem durch geeignete
Simulation des Füllstandes oder des physikalischen Messeffekts zum
Ansprechen zu bringen.
Die bei den Tests verwendeten Methoden und Verfahren müssen
benannt und deren Eignungsgrad spezifiziert werden. Die Prüfungen
sind zu dokumentieren.
Verläuft der Funktionstest negativ, muss das gesamte Messsystem
außer Betrieb genommen werden und der Prozess durch andere
Maßnahmen im sicheren Zustand gehalten werden.
In der zweikanaligen Architektur (1oo2D) gilt dies getrennt für beide
Kanäle.
1
.7 S
icherheitstechnische Kennzahlen
Die Ausfallraten der Elektronik, der mechanischen Teile des Mess-
wertaufnehmers, sowie des Prozessanschlusses wurden durch eine
FMEDA nach IEC 61508 ermittelt. Den Berechnungen sind Bauele-
menteausfallraten nach SN 29500 zugrunde gelegt. Alle Zahlenwerte
beziehen sich auf eine mittlere Umgebungstempertur während der
Betriebszeit von 40 °C (104 °F).
Für eine höhere durchschnittliche Temperatur von 60 °C (140 °F)
sollten die Ausfallraten erfahrungsgemäß mit einem Faktor von 2,5
multipliziert werden. Ein ähnlicher Faktor gilt, wenn häufige Tempe-
raturschwankungen zu erwarten sind.
Die Berechnungen stützen sich weiterhin auf die im Kapitel "Projek-
tierung" genannten Hinweise.
Nach 8 bis 12 Jahren werden sich die Ausfallraten der elektronischen
Bauelemente vergrößern, wodurch sich die daraus abgeleiteten PFD-
und PFH-Werte verschlechtern (IEC 61508-2, 7.4.7.4, Anmerkung 3).
Überlaufschutz (Max.-/
A-B
etrieb)
T
rockenlaufschutz
(M
in.-/B-Betrieb)
λ
sd
0 FIT
0 FIT
λ
su
243 FIT
241 FIT
λ
dd
0 FIT
0 FIT
λ
du
27 FIT
30 FIT
MTBF = MTTF + MTTR
3,7
x 10
6
h
3,7
x 10
6
h
Fehlerreaktionszeit
<
1,5
sek.
G
rundlagen
N
utzungsdauer
A
usfallraten
F
ehlerreaktionszeit
8
OPTISWITCH Serie 5000 • - Transistor (NPN/PNP)
1 F
unktionale Sicherheit
32749
-DE
-100128