KROHNE OPTISWITCH 5xx0C Transistor SIL DE - Handbuch (Seite 9)

E inkanalige Architektur (1oo1D)
SIL SIL2
HFT 0
Gerätetyp Typ A
Überlaufschutz (Max.-/
A-B etrieb)
T rockenlaufschutz
(M in.-/B-Betrieb)
SFF 89 % 89 %
PFD
avg
T
Proof
= 1 J ahr
T
Proof
= 5 J ahre
T
Proof
= 10 J ahre
< 0,012 x 10 -2
< 0,06 x 10 -2
< 0,12 x 10 -2
< 0,013 x 10 -2
< 0,065 x 10 -2
< 0,13 x 10 -2
PFH < 0,027 x 10 -6 / h < 0,03 x 10 -6 / h
Der zeitliche Verlauf von PFD
avg
verhält sich im Zeitraum bis 10
Jahren annähernd linear zur Betriebszeit. Die oben genannten Werte
gelten nur für das T
Proof
-I ntervall, nach dem ein wiederkehrender
Funktionstest durchgeführt werden muss.
1 5 10
T
Proof
PFD
avg
1
2
3
4
Abb. 1: Zeitabhängiger Verlauf von PFD
avg
(Zahlenwerte siehe oben dargestellte
Tabellen)
1 PFD
avg = 0
2 PFD
avg
nach 1 Jahr
3 PFD
avg
nach 5 Jahren
4 PFD
avg
nach 10 Jahren
M ehrkanalige Architektur
Wird das Messsystem in einer mehrkanaligen Architektur eingesetzt,
so sind die sicherheitstechnischen Kennzahlen der gewählten Struktur
der Messkette anhand der oben angegebenen Ausfallraten speziell für
die gewählte Applikation zu berechnen.
S pezifische Kennzahlen
Z eitabhängiger Verlauf
von PFD
avg
S pezifische Kennzahlen
OPTISWITCH Serie 5000 • - Transistor (NPN/PNP) 9
1 F unktionale Sicherheit
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DE
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