Metrohm 861 Advanced Compact IC - Handbuch (Seite 95)

5.1 Technische Daten
861 Advanced Compact IC / Gebrauchsanweisung 8.861.1031
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5 Anhang
5.1 Technische Daten
Soweit nicht anders angegeben, sind die publizierten
Daten typische Werte für den 861 Advanced Compact
IC bei einer Umgebungstemperatur von 25°C.
5.1.1 Leitfähigkeitsmessung
Messbereich 1 0 … 5000 µ S/cm (Auflösungsschritt: 2.80 nS/cm)
Messbereich 2 0 … 1000 µ S/cm (Auflösungsschritt: 0.56 nS/cm)
Messbereich 3 0 … 250 µ S/cm (Auflösungsschritt: 0.14 nS/cm)
Messbereich 4 0 … 50 µ S/cm (Auflösungsschritt: 0.028 nS/cm)
Maximaler Fehler ± 1 % vom Full-Scale-Wert und
± 1 % vom Messwert (k = 16.7/cm)
Linearität Abweichungen < ± 0.5 % des Full-Scale-Wertes
Rauschen typ. 0.2 nS/cm (Gesamtrauschen des Systems -
chemisch und elektronisch mit Trennsäule und
sequentieller Suppression)
Drift (elektronisch) typ. < 10 ppm/h vom Full-Scale-Wert
Temperaturabhängigkeit typ. < 40 ppm/°C vom Full-Scale-Wert
Bereichsreserve > 33 % (k = 16.7/cm)
Messrate 10 Messungen/s fix
5.1.2 Leitfähigkeitsdetektor
Aufbau Thermostatisierter Leitfähigkeitsdetektor mit
2 ringförmigen Stahlelektroden
Messprinzip Wechselstrommessung mit 1 kHz Frequenz und
ca. 1.7 V Amplitude (peak to peak).
Effektives Zellvolumen 0.8 µ L
Zellkonstante ca. 17 /cm (der genaue Wert ist auf dem Detektor
aufgedruckt)
Maximaler Gegendruck für
Messzelle
5.0 MPa (50 bar)
Thermostatisierung Zuschaltbare dynamische Regelung auf einstell-
bare Arbeitstemperatur
Arbeitstemperatur Einstellbar in Schritten von 5°C von 25 … 45°C
Max. Temperaturabweichung ± 2.5°C