KROHNE OPTISWITCH 3x00C Transistor SIL DE - Handbuch (Seite 10)

Überlaufschutz (Max.-
B etrieb)
T rockenlaufschutz
(M in.-Betrieb)
SFF 95 % 94 %
PFD
avg
T
P roof
= 1 J ahr
T
P roof
= 5 J ahre
T
P roof
= 10 J ahre
< 0,013 x 10 -2
< 0,066 x 10 -2
< 0,131 x 10 -2
< 0,018 x 10 -2
< 0,088 x 10 -2
< 0,177 x 10 -2
PFH < 0,03 x 10 -6 / h < 0,04 x 10 -6 / h
D er zeitliche Verlauf von PFD
avg
verhält sich im Zeitraum bis
10 J ahren annähernd linear zur Betriebszeit. Die oben
genannten Werte gelten nur für das T
P roof
-I ntervall, nach dem
ein wiederkehrender Funktionstest durchgeführt werden muss.
1 5 10
T
Proof
PFD
avg
1
2
3
4
Abb. 1: Zeitabhängiger Verlauf von PFD
avg
(Zahlenwerte siehe oben dargestellte
Tabellen)
1 PFD
avg = 0
2 PFD
avg
nach 1 Jahr
3 PFD
avg
nach 5 Jahren
4 PFD
avg
nach 10 Jahren
M ehrkanalige Architektur
W ird das Messsystem in einer mehrkanaligen Architektur
eingesetzt, so sind die sicherheitstechnischen Kennzahlen der
gewählten Struktur der Messkette anhand der oben angege-
benen Ausfallraten speziell für die gewählte Applikation zu
berechnen.
E
s ist ein geeigneter Common Cause Faktor zu berücksich-
tigen.
Z eitabhängiger Verlauf
von PFD
avg
S pezifische Kennzahlen
10 OPTISWITCH S erie 3000 • - Transistor (NPN/PNP)
F unktionale Sicherheit
32744
-DE
-080408