KROHNE OPTISWITCH 3x00C Transistor SIL DE - Handbuch (Seite 8)

W erden aufgrund eines festgestellten Fehlers die Elektronik
oder der gesamte Sensor ausgetauscht, so ist dies dem
H
ersteller zu melden (inklusive einer Fehlerbeschreibung).
1 .6 W iederkehrender Funktionstest
D er wiederkehrende Funktionstest dient dazu, die Sicher-
heitsfunktion zu überprüfen, um mögliche, nicht erkennbare
gefährliche Fehler aufzudecken. Die Funktionsfähigkeit des
M
esssystems ist deshalb in angemessenen Zeitabständen zu
prüfen.
E s liegt in der Verantwortung des Betreibers, die Art der
Überprüfung zu wählen. Die Zeitabstände richten sich nach
dem in Anspruch genommenen PFD
avg
-W
ert laut Tabelle und
D iagramm im Abschnitt "Sicherheitstechnische Kennzahlen".
B
ei hoher Anforderungsrate ist in der IEC 61508 kein wieder-
kehrender Funktionstest vorgesehen. Ein Nachweis der
F
unktionstüchtigkeit wird hier in der häufigeren Inanspruch-
nahme des Messsystems gesehen. In zweikanaligen Archi-
tekturen ist es jedoch sinnvoll, die Wirkung der Redundanz
durch wiederkehrende Funktionstests in angemessenen Zeit-
abständen nachzuweisen.
D
ie Prüfung ist so durchzuführen, dass die einwandfreie
S icherheitsfunktion im Zusammenwirken aller Komponenten
nachgewiesen wird.
D
ies ist bei einem Anfahren der Ansprechhöhe im Rahmen
einer Befüllung gewährleistet. Wenn eine Befüllung bis zur
A
nsprechhöhe nicht praktikabel ist, so ist das Messsystem
durch geeignete Simulation des Füllstandes oder des physi-
kalischen Messeffekts zum Ansprechen zu bringen.
D
ie bei den Tests verwendeten Methoden und Verfahren
müssen benannt und deren Eignungsgrad spezifiziert werden.
D
ie Prüfungen sind zu dokumentieren.
V erläuft der Funktionstest negativ, muss das gesamte Mess-
system außer Betrieb genommen werden und der Prozess
durch andere Maßnahmen im sicheren Zustand gehalten
werden.
I
n der zweikanaligen Architektur 1oo2D gilt dies getrennt für
beide Kanäle.
A llgemein
8 OPTISWITCH S erie 3000 • - Transistor (NPN/PNP)
F unktionale Sicherheit
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-DE
-080408