KROHNE OPTISWITCH 3x00C Transistor SIL DE - Handbuch (Seite 9)

1 .7 S icherheitstechnische Kennzahlen
D
ie Ausfallraten der Elektronik, der mechanischen Teile des
M esswertaufnehmers, sowie des Prozessanschlusses wurden
durch eine FMEDA nach IEC 61508 ermittelt. Den Berech-
nungen sind Bauelementeausfallraten nach SN 29500 zu-
grunde gelegt. Alle Zahlenwerte beziehen sich auf eine
mittlere Umgebungstempertur während der Betriebszeit von
40 °C (104 °F).
Fü
r eine höhere durchschnittliche Temperatur von 60 °C
(140 °F) sollten die Ausfallraten erfahrungsgemäß mit einem
F
aktor von 2,5 multipliziert werden. Ein ähnlicher Faktor gilt,
wenn häufige Temperaturschwankungen zu erwarten sind.
D
ie Berechnungen stützen sich weiterhin auf die im Kapitel
"P rojektierung" genannten Hinweise.
N ach 8 bis 12 Jahren werden sich die Ausfallraten der
elektronischen Bauelemente vergrößern, wodurch sich die
daraus abgeleiteten PFD- und PFH-Werte verschlechtern
(IEC 61508-2, 7.4.7.4, A
nmerkung 3).
Überlaufschutz (Max.-
B etrieb)
T rockenlaufschutz
(M in.-Betrieb)
λ
sd
0 FIT 0 FIT
λ
su
487 FIT 466 FIT
λ
dd
124 FIT 135 FIT
λ
du
30 FIT 40 FIT
DC
S
0 % 0 %
DC
D
81 % 77 %
MTBF = MTTF + MTTR 1,52 x 10 6 h 1,52 x 10 6 h
D iagnosetestdauer < 100 sek.
E inkanalige Architektur (1oo1D)
SIL SIL 2
HFT 0
G erätetyp T yp B
G rundlagen
N utzungsdauer
A usfallraten
F ehlerreaktionszeit
S pezifische Kennzahlen
OPTISWITCH S erie 3000 • - Transistor (NPN/PNP) 9
F unktionale Sicherheit
32744
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DE
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080408