KROHNE OPTISWITCH 3x00C Transistor SIL DE - Handbuch (Seite 5)

E s wird zwischen den beiden Zuständen "bedeckt" und
" unbedeckt" unterschieden.
D er sichere Zustand ist abhängig von der Betriebsart:
Überlaufschutz (Max.-
B etrieb)
T rockenlaufschutz
(M in.-Betrieb)
S chwingelement im si-
cheren Zustand
bedeckt unbedeckt
A usgangskreis im si-
cheren Zustand
stromlos stromlos
D
er sichere Zustand des Messsystems ist der abgeschaltete
Z ustand (Ruhestromprinzip):
l
C-E
lektronik: Kontaktloser Schalter offen
l
R-E lektronik: Relaisausgang stromlos
l
T-E
lektronik: Transistorausgang nicht leitend
E
in ungefährlicher Ausfall (safe failure) liegt vor, wenn das
M
esssystem ohne Anforderung des Prozesses in den defi-
nierten sicheren Zustand oder in den Störmodus wechselt.
E
rkennt das interne Diagnosesystem einen Fehler, so wech-
selt das Messsystem in den Störmodus.
E in gefährlicher unentdeckter Ausfall (dangerous undetected
failure) liegt vor, wenn das Messsystem bei einer Anforderung
des Prozesses weder in den definierten sicheren Zustand,
noch in den Störmodus wechselt.
D ie Auswerteinheit muss den Ausgangskreis des Messsys-
tems unter Beachtung des Ruhestromprinzips auswerten.
D ie Auswerteinheit muss dem SIL-Level der Messkette
entsprechen.
B
eträgt die Anforderungsrate nicht mehr als einmal pro Jahr,
so darf das Messsystem als sicherheitsrelevantes Teilsystem
in der Betriebsart "low demand mode" eingesetzt werden
(IEC 61508-4, 3.5.12).
W
enn das Verhältnis der internen Diagnosetestrate des
M
esssystems zur Anforderungsrate den Wert 100 über-
schreitet, kann das Messsystem so behandelt werden, als
wenn es eine Sicherheitsfunktion in der Betriebsart mit
niedriger Anforderungsrate ausführt (IEC 61508-2, 7.4.3.2.5).
S icherer Zustand
F ehlerbeschreibung
K onfiguration der Aus-
werteinheit
B etriebsart mit niedriger
A nforderungsrate
OPTISWITCH S erie 3000 • - Transistor (NPN/PNP) 5
F unktionale Sicherheit
32744
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DE
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080408