Dell Broadcom NetXtreme Family of Adapters - Handbuch (Seite 165)

Diagnoseprogramm: Broadcom Broadcom NetXtreme BCM57XX Benutzerhandbuch
file:///C|/Users/Nalina_N_S/Documents/NetXtreme/German/dosdiag.htm[9/5/2014 3:35:08 PM]
A5:
Register
Dieser Test überprüft den einwandfreien Zugriff auf die PCI-Konfigurationsregister.
Gruppe B: Speichertests
B1: Scratch Pad
Dieser Test prüft den Arbeitsspeicher-SRAM auf der Platine. Folgende Tests werden ausgeführt:
Adresstest: Dieser Test schreibt eindeutige inkrementierte Daten in jede Adresse und liest die
Daten zurück, um festzustellen, ob sie korrekt sind. Nach dem Füllen der gesamten Adresse mit
eindeutigen Daten liest das Programm die Daten noch einmal zurück, um sicherzustellen, dass die
Daten noch korrekt sind.
Walking-Bit. Für jede Adresse wird eine Dateninformation geschrieben und zum Testen
zurückgelesen. Dann werden die Daten um eins nach links verschoben, damit aus den Daten zwei
Informationen werden. Danach wird derselbe Test noch einmal ausgeführt. Dieser Vorgang wird
32-mal wiederholt, bis das Testbit aus der Testadresse verschoben ist. Derselbe Test wird für den
gesamten Testbereich wiederholt.
Pseudo-Zufallsdaten: Zuvor berechnete Pseudo-Zufallsdaten werden als eindeutige Daten in
jeden Test-RAM geschrieben. Nach dem Test liest das Programm die Daten noch einmal zurück,
um sicherzustellen, dass die Daten noch korrekt sind.
Datenschreib- bzw. Datenlese-Test: Dieser Test schreibt Testdaten in den SRAM und liest sie
zurück, um festzustellen, ob die Daten korrekt sind. Als Testdaten werden 0x00000000,
0xFFFFFFFF, 0xAA55AA55 und 0x55AA55AA verwendet.
Alternativer Datenmustertest: Dieser Test schreibt Testdaten in den SRAM, schreibt ergänzende
Testdaten in die nächste Adresse und liest beide Daten zurück, um festzustellen, ob sie korrekt
sind. Nach dem Test liest das Programm die Daten noch einmal zurück, um sicherzustellen, dass
die Daten noch korrekt sind. Als Testdaten werden 0x00000000, 0xFFFFFFFF, 0xAA55AA55 und
0x55AA55AA verwendet.
B2: BD SRAM
Dieser Test prüft den BD-SRAM. Dieser Test wird auf dieselbe Weise durchgeführt wie der unter B1
beschriebene Arbeitsspeichertest.
B3: DMA SRAM
Dieser Test prüft den DMA-SRAM, indem er den unter B1 beschriebenen Arbeitsspeichertest
durchführt.
B4: MBUF SRAM
Dieser Test prüft den MBUF-SRAM, indem er den unter B1 beschriebenen Arbeitsspeichertest
durchführt.
B5:
MBUF-SRAM
über DMA
Dieser Test verwendet 8 Datentestmuster. Ein Datenpuffer der Größe 0x1000 wird für den Test
verwendet. Vor jedem Mustertest wird der Puffer initialisiert und mit dem Testmuster gefüllt. Er
führt dann einen Transmit-DMA der Größe 0x1000 vom Hostpuffer in den MBUF-Speicher des
Adapters durch.
Der Test prüft die Datenintegrität im MBUF-Speicher des Adapters im Vergleich zum Hostspeicher.
Der DMA wird für den gesamten MBUF-Speicher wiederholt. Im Anschluss daran erfolgt ein
Receive-DMA vom Adapter zum Host. Der 0x1000-Byte-Testpuffer wird vor jedem Receive-DMA
auf 0 gesetzt. Nachdem die Integrität der Daten geprüft wurde, wird der Test für den gesamten
MBUF-SRAM-Bereich wiederholt. Im Folgenden finden Sie eine Beschreibung der 8 Testmuster.
Test Musterbeschreibung
16 00s and 16 FF's Fills the entire host DMA buffer with 16 bytes of 00s and then
16 bytes of FF's.
16 FF's and 16 00s Fills the entire host DMA buffer with 16 bytes of FF's and then
16 bytes of 00s.
32 00s and 32 FF's Fills the entire host DMA buffer with 32 bytes of 00s and then
32 bytes of FF's.
32 FF's and 32 00s Fills the entire host DMA buffer with 32 bytes of FF's and then
32 bytes of 00s.
00000000 Fills the entire host DMA buffer with all 00s.
FFFFFFFF Fills the entire host DMA buffer with all FF's.
AA55AA55 Fills the entire host DMA buffer with data 0xAA55AA55.
55AA55AA Fills the entire host DMA buffer with data 0x55AA55AA.
B7 CPU GPR
Dieser Test prüft die CPU General Purpose-Register und wird auf dieselbe Weise durchgeführt wie
der Arbeitsspeichertest (B1), nämlich über 3 unterschiedliche Betriebsspannungen (1,1 V, 1,2 V
und 1,3 V).
Gruppe C: Verschiedene Tests
C1: NVRAM
Beim EEPROM-Test werden inkrementelle Testdaten verwendet. Dieser Test füllt den Testbereich
mit Testdaten und liest die Daten zum Bestätigen des Inhalts zurück. Nach dem Test werden die
Daten auf 0 gesetzt, um den Speicher zu löschen.
C2: CPU
Dieser Test öffnet die Datei Cpu.bin. Wenn die Datei vorhanden und der Inhalt korrekt ist, lädt der
Test den Code in den Empfangs- und Übertragungsbereich der CPU und prüft die Ausführung durch
die CPU.
C3: DMA
Dieser Test prüft den DMA (Direct Memory Access; Direkt-Speicherzugriff) mit hoher Priorität und
den DMA mit niedriger Priorität. Die Daten werden dabei vom Hostspeicher in den SRAM des
Adapters verschoben und geprüft. Anschließend werden die Daten zurück in den Hostspeicher
verschoben und erneut geprüft.
Der MII-Test ist identisch mit dem Kontrollregistertest (A2). Alle in der Konfiguration angegebenen
Register legen die schreibgeschützten Bits und die Schreib-/Lese-Bits fest. Dieser Test schreibt 0