KROHNE SU 501 EX DE Benutzerhandbuch
Seite 30
Einkanalige Architektur
Aus den oben genannten Daten sind folgende Kennzahlen
abgeleitet:
SIL2 (Safety Integrity Level)
HFT = 0 (Hardware Fault Tolerance)
PFD
avg
T
Proof
= 1 Jahr
T
Proof
= 5 Jahre
T
Proof
= 10 Jahre
<0,044x10
-2
<0,218x10
-2
<0,436x10
-2
PFH
<0,1x10
-6
/h
Zweikanalige Architektur
Wird das Messsystem in einer zweikanaligen Architektur
eingesetzt, so sind die sicherheitstechnischen Kenndaten der
gewählten Struktur der Messkette anhand der oben angege-
benen Ausfallraten speziell für die gewählte Applikation zu
berechnen. Es ist dabei ein Common Cause Faktor zu
berücksichtigen, der im schlechtesten Fall 10 % beträgt.
Es gilt hierbei:
SIL3 (Safety Integrity Level)
HFT = 1 (Hardware Fault Tolerance)
Der zeitliche Verlauf von PFD
avg
verhält sich im Zeitraum bis
10 Jahren annähernd linear zur Betriebszeit. Die oben
genannten Werte gelten nur für das T
Proof
-Intervall, nach dem
ein wiederkehrender Funktionstest durchgeführt werden muss.
Architektur 1oo1D
Zeitabhängiger Verlauf von
PFD
avg
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SU 501 Ex - Auswertgerät
Funktionale Sicherheit
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-DE
-050616