3 rack konfigurieren – Metrohm 766 IC Sample Processor Benutzerhandbuch

Seite 34

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3.3 Rack konfigurieren

766 IC Sample Processor

29

RESET

CLEAR

Am Schluss dieser Grundkonfiguration muss der IC Sample Proces-

sor 766 aus- und wieder eingeschaltet oder mit <RESET> neu in-

itialisiert werden, um die zuletzt vorgenommenen Einstellungen wirk-

sam werden zu lassen.

Alle bisher eingegebenen Daten bleiben dabei erhalten. Dies gilt

auch für eine eventuell geladene Methode.

3.3

Rack konfigurieren

Mit den Tasten <é> und <ê> können Sie nun den Lift in die

gewünschte Arbeitsposition (Arbeitshöhe für die Nadel) fahren.

CONFIG

<ê>

<ENTER>

Öffnen Sie nun das Konfigurationsmenü mit <CONFIG> und betä-

tigen Sie die Cursortaste <ê>, bis Sie beim Untermenü

'>Rackdefinitionen'

angelangt sind. Mit <ENTER> öffnen Sie die-

ses Untermenü und können hier die Rackkonfiguration vornehmen.

>Rackdefinitionen
Racknummer 2

<ENTER>

Wenn das Probenrack richtig erkannt wurde, wird zuerst die Rack-

nummer des aufgesetzten Racks angezeigt. Durch Bestätigen mit

<ENTER> gelangen Sie zu den Rackdaten. (Durch Eingabe einer

anderen Racknummer könnten Sie auch die Daten eines nicht auf-

gesetzten Probenracks editieren.)

<ê>

RESET

CLEAR

Die ersten Einträge (Code und Racktyp) können Sie mit der Cursor-

taste <ê> übergehen. Nun können Sie die Arbeitsposition der Na-

del eingeben.

>Rackdefinitionen 2
Arbeitsposition 125 mm

Da Sie die Nadel zuvor auf der gewünschten Höhe positioniert

haben, können Sie durch Drücken von <CLEAR> die aktuelle Lift-

position direkt übernehmen. Selbstverständlich können Sie die Ar-

beitsposition auch manuell eingeben oder den automatisch über-

nommenen Wert nachträglich von Hand ändern. Liftpositionen

werden in Millimetern (0…125 mm) angegeben und vom oberen

Anschlag (Ruheposition) des Lifts aus gemessen. Beachten Sie bei

der Eingabe der Arbeitsposition, dass mit Probengefässen, welche

mit PE-Stopfen verschlossen sind, die Arbeitsposition zwingend auf

125 mm gesetzt werden muss, da sonst im Probengefäss ein Vaku-

um entstehen kann und die Probe nicht richtig angesogen wird.

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