Apple Aperture 3.5 - Handbuch (Seite 287)

Kapitel 7 Arbeiten mit Bildanpassungen 287
m Detailgenauigkeit geklonter Pixel in der Überlagerung „Reparaturstempel“ für Zielbereiche anpassen
Verwenden Sie die Steuerelemente des Parameters „Detail“.
Verwenden Sie den Schiebe-
und den Werteregler „Detail“,
um die Detailgenauigkeit
der geklonten Pixel in der
Überlagerung anzupassen.
Die Parameter „Detail“ legen fest, in welchem Umfang Details wie Textur oder Körnung in den
geklonten Pixeln beibehalten werden.
Sie können die
Detailgenauigkeit
der geklonten Pixel
anpassen.
m Winkel der geklonten Pixel in der Überlagerung „Reparaturstempel“ für das Ziel anpassen Verwenden
Sie die Steuerelemente des Parameters „Winkel“.
Verwenden Sie den Schiebe-
und den Werteregler
„Winkel“, um den Winkel der
Pixel in der Überlagerung für
das Ziel anzupassen.
Der Parameter „Winkel“ legt den Winkel der geklonten Pixel in der Überlagerung
„Reparaturstempel“ für das Ziel fest (nur für Anpassungen „Reparaturstempel“). Das ist von
Vorteil, wenn der geklonte Bereich zwar dieselben visuellen Elemente (z. B. ein Muster oder eine
Linie) enthält wie der Zielbereich, die Elemente im Quellenbereich aber in einem anderen Winkel
verlaufen als im Zielbereich. Mithilfe der Steuerelemente „Winkel“ können Sie den Winkel der
geklonten Pixel in der Überlagerung für das Ziel ändern.
Sie können den Winkel
der geklonten Pixel
anpassen.
67% resize factor